一、一般標準

1.工作溫(wen)度(du)：-15℃~+80℃

2.貯存溫(wen)度：-30°C~+85*C

3.貯存時間： 

A.產品在無擠壓情況下平放(fang)：可長期保(bao)貯

B.產(chan)品在擠壓(ya)情況下存放(fang)：1個月(yue)

4.工(gong)作相對濕度：45%~95%

5.工作i壓：86-106Kpa

6.接(jie)觸(chu)率(lv)：5MA在12VDC/0.5秒(miao)/2*107次

7.接觸反彈：<12亳秒

8.絕(jue)緣電(dian)阻：>1012歐姆/500VDC

9.擊穿電壓：>25KV/mm

二、外觀

1.顏色

(1).標準：硫(liu)化裝配后硅膠(jiao)不(bu)外露，無(wu)較大(da)差異

(2).檢測方法：在明亮的自然光或40W日光燈下，將標準樣品或色卡與待校樣品放在一(yi)起(qi)，經(jing)視力1.0以(yi)上(shang)，無(wu)色(se)盲(mang)的(de)(de)專(zhuan)注人員(yuan)在肉(rou)眼與樣品間距為30cm的(de)(de)情況下(xia)目檢5秒鐘。

2.偏心

(1)標準：H厚(hou)-H薄

 彈性壁厚度<0.1MM時，模具檢測時X =20%;

≤X彈(dan)性壁(bi)厚度<0.2MM 時，模具檢測時X=15%

H厚+H薄

 彈性(xing)壁厚度<0.3MM時(shi)，模(mo)具檢(jian)測時(shi)X=8%

(2)檢測(ce)方法：用(yong)厚度儀(yi)測(ce)試。

3.溢料

(1)標準：從鍵面向下

單色(se)料高(gao)≥露出外殼高(gao)度+ 1.0MM，裝外殼后看(kan)不見為(wei)宜.

(2)檢測方法：用(yong)游標卡尺(chi)測量(liang)

4.毛邊

(1)標準：產品邊緣：≤0.5MM

定位孔： ≤0.1MM

5.破裂

(1)標準： 無影響裝配與使用(yong)性能之處：≤1.0MM

(2)檢測方法(fa)：用游標卡(ka)尺測量

6. 色點凹凸點

(1)標準(zhun)：客戶裝配后硅膠(jiao)外露部分：無明顯可(ke)見

檢(jian)測(ce)方法：在(zai)明亮的自然光或(huo)40瓦日光燈(deng)照射下，將樣品放于距肉(rou)眼30CM左右處經

視力(li)1.0以(yi)上人(ren)員目測5秒(miao)鐘

7.以上字符偏移

(1) 標準：中心值±0.15MM

(2)檢測方(fang)法(fa)：用工(gong)具(ju)顯微(wei)鏡(jing)測量(liang)

三、物理性能

1.尺寸

L＜10： L±0.05MM

10≤L＜20： L±0.08MM

20≤L<30： L+0.10MM

30≤L<50： L+0.15MM

50≤L<100： L+0.3%LMM

100≤L ： L+0.5%LMM

(2)檢測方法：用投影儀測量(liang)

2.彈力

(1)標準：

A.峰值P1

標準值： 

50±(5-10)g

70±(10-15)g

90±(15-20)g

100±(15-20)g

120±(20-25)g

150±(20-25)g

170±(25-30)g

200- 300g±35g

b.最小回彈P3

P1≤50G時： P3≥20G

50G<P1≤120G時： P3≥25G

120G<P1≤180G時： P3≥30G

180G<P1≤250G時： P3≥40G

250G<P1

時： P3≥50G

c.感覺：20%-80%

d.離散性

P1中心值≤150g時，同(tong)片產品之同(tong)種鍵型：≤15%

不同(tong)片產品(pin)之同(tong)種鍵型(xing)：<20%

P1中心值≥150g時，同(tong)片(pian)產品之同(tong)種(zhong)鍵型：≤20%

不同片產(chan)品之同種鍵型：<25%

(2)測試方法：用AIKOH MODEL 1305彈力測量儀測出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1，接(jie)觸彈(dan)力(li)P2，最小回彈(dan)P3.計(ji)算其：

感覺(jue)=(P1-P2)/P1*

離散性=((P1更大峰(feng)值)-P1(最小峰(feng)值))/P1(更大峰(feng)值)*

3.接觸電阻

(1)標準：

a.黑粒導電：≤100歐姆

b.移印導(dao)電：≤250歐姆(mu)

c.絲(si)印(yin)導電：≤500歐姆

(2)測試方法：用壓力為250g壓力使產品鍵之導電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金板上，待(dai)萬用表顯示值(zhi)基本穩定后，讀取(qu)其顯示值(zhi)。

5.壽命

a.彈性壁壽命

(1)標準(zhun)：≥50萬次.

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程為產品(pin)沖程+[0.1-0.2]mm，經10萬次(ci)打擊后，彈性壁不得開裂破損，可回(hui)彈且提失s30%，當客戶無要求時均按50萬次(ci)進行測(ce)試(shi).

b.印刷導電壽命

(1)標準(zhun)：≥200000次(ci)

(2)測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打(da)擊(ji)接觸行程為(wei)產品沖(chong)程+[0.1-0.2]mm，經20萬(wan)次(ci)打(da)后，導電物(wu)質不得(de)從導電基(ji)上脫落(luo)H其接(jie)觸電阻在(zai)規格內。

c.印刷字體壽命

(1)標準：≥100圈(quan)

(2)測試方法：將字符單鍵安裝于PK-3-4字體壽命儀上，使鍵高出0.5-1.0MM，在加上500G的壓力轉動摩擦，字體不(bu)斷(duan)開，當客戶無明確要(yao)求時可采(cai)用目視厚度(du)方(fang)法進行壽(shou)命(ming)控制.

d.PU壽命

(1)標準：≥RCA 50圈

(2)測試方法：將測試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度0.5- lmm，壓力為175g情況下(xia)字(zi)體出現(xian)損傷時壽(shou)命即為PU壽(shou)命.客戶(hu)無要求時，PU壽(shou)命按此標準。

四、化學性能(neng)(只限錄音電(dian)話機(ji)的硅膠(jiao)按鍵(jian))

1.加熱失重率

(1)標準： a≤0.2%(經200℃/4HRS加熱(re)失(shi)重(zhong)后)

b.≤1 .0%(經200^C/24HRS加熱(re)失重后)

(2)測試方法：將產品放于干燥箱內30分鐘然后取出，用分析天平稱取測試前產品的片重，W1將產(chan)品放(fang)入(ru)溫度(du)為200+/-5*C的烘箱內烘烤4小時(shi)或24小時(shi)，然(ran)后將產(chan)品拿出放(fang)入(ru)干(gan)燥(zao)箱內放置30分鐘后用分析天平稱取其重量W2，計(ji)算(W1-W2)/W1*之值。

2.抽提失重率

(1)標準：≤3.5%

(3)測試方法：選取一些有代表性的鍵，剪取約0.5g樣品，再將其剪成0.005-0.01g的小粒，用分(fen)析天(tian)平稱其準確總重為W1，將樣品放(fang)抽提器內并加入異(yi)炳醇(IPA)進行提2小(xiao)時，然后取出樣品再放入溫度為100"C的(de)烘(hong)箱內(nei)(nei)烘(hong)烤(kao)半(ban)小(xiao)時(shi)，取出后放入干(gan)燥箱內(nei)(nei)冷卻半(ban)小(xiao)時(shi)稱其(qi)準(zhun)確總重W2，計算(W1-W2)/W1*之值。

3.低分子含量

(1) 標準(zhun)： D3-D10≤300PPM

測試方法：選取有代表性的鍵1.00+/-0.002g樣品，將其剪成約為2mm的小顆粒，放入小瓶內，再(zai)將20ML CCL4溶液注入小瓶中，加入20UL的(de)內標物(CH3(CH2 9CH3)搖勻存放16-24HRS，用色譜分析(xi)儀測量其D3-D10的量.